組込み総合技術展Embedded Technology 2012 （ET2012）に研究成果を出展しました。

2012/11/14～16に横浜で開催された組込み総合技術展Embedded Technology 2012（ET2012）に研究成果を出展し、中田・奥村・竹内・藤川・木美・松川の6名および共同研究グループの方でパネル展示、試作チップに関するデモ、カーシミュレータを用いた高信頼プロセッサのライブデモを行いました。
当日は１００名近い方々にお越しいただき、非常に有意義な展示会となりました。展示内容は以下の研究です。

超高信頼性VLSIシステムのためのディペンダブルメモリ技術

• 自律型ディペンダブルメモリと不良予測・回避技術の開発
• オンチップノイズモニタとSRAMイミュニティ評価応用
• Virtualizationを用いたディペンダブルメモリのシステムレベル検証