組込み総合技術展Embedded Technology 2011(ET 2011)に研究成果を出展しました。

2011/11/16~18に横浜で開催された組込み総合技術展Embedded Technology2011(ET 2011)に研究成果を出展し、中田、竹内の2名および共同研究グループの方でパネル展示とデモを行いました。
展示内容は以下の研究でした。

• 超高信頼性VLSIシステムのためのディペンダブルメモリ技術
  -チップ内モニタリングによる不良予知技術の開発
  -SRAMにおける不良回避技術の開発
  -Virtualizationを用いたディペンダブルメモリのシステムレベル検証