吉本秀輔がアメリカ・モントレーにて開催された国際学会 IRPS2011で発表しました。

2011年4月10日-14日に，アメリカ・モントレーにて開催された国際学会IRPS2011で、D1吉本秀輔が発表しました。

• S. Yoshimoto, T. Amashita, S. Okumura, K. Yamaguchi, M. Yoshimoto and H. Kawaguchi, “Bit Error and Soft Error Hardenable 7T/14T SRAM with 150-nm FD-SOI Process,” IEEE International Reliability Phisics Symposium (IRPS), pp. 876-881, Apr. 2011.