吉本秀輔がアメリカ・イリノイ大学にて開催された国際学会 SELSE2011で発表しました。

2011年3月29日-30日に、アメリカ・イリノイ大学にて開催された国際学会 SELSE2011で、M2吉本秀輔が発表しました。

• S. Yoshimoto, T. Amashita, D. Kozuwa, T. Takata, M. Yoshimura, Y. Matsunaga, H. Yasuura, H. Kawaguchi, and M. Yoshimoto, “Multiple-Bit-Upset Tolerant 8T SRAM Cell Layout with Divided Wordline Structure,” Proceedings of IEEE Silicon Errors in Logic – System Effects (SELSE), Mar. 2011.